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技術支持

今日報道@超聲掃描顯微鏡系列和伍超聲探傷儀C400
更新時間:2023-05-09   點擊次數:587次

 

據宣傳部2023年5月9日報道,@超聲掃描顯微鏡系列和伍超聲探傷儀C400產品咨詢,技術參數,購買指南!

此價格為誠意定購金,產品貨期&價格請與客服咨詢為準!謝謝!

產品概述:

超聲掃描顯微鏡(SAT)是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像設備,主要利用高頻超聲波,對各類半導體器件、材料進行檢測,能夠檢測出樣品內部的氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷,并以圖形的方式直觀展示。在掃描過程中,不會對樣品造成損傷,不會影響樣品性能,可有效滿足新能源、半導體、電力電子、熱管理材料、金剛石復合材料、碳纖維復合材料等行業需求。

產品特點:

1、 具備A(點掃描)、B(縱向掃描)、C(橫向掃描),Tray-托盤掃描等系列掃描模式。

2、 具備定量測分析功能,以圖像方式直觀顯示被測件內部缺陷的位置、形狀和大小,并進行缺陷的尺寸和面積統計,自動計算缺陷占所測量面積的百分比;具備缺陷尺寸標識;厚度與測距等功能。

3、 適用于單個器件的快速掃描分析,也可批量放置樣品同步進行缺陷識別,快速篩選出不合格品。

4、 可兼容1~25MHz的超聲探頭。

5、 檢測軟件自主研發,中英文界面,可根據客戶需求對功能進行持續升級。


 

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